2010-07-02
控溫晶片瑕疵存在過熱可能
Sony回收53.5萬台Vaio F、C系NB
文: Goofy Ko / 新聞中心
文章索引: IT要聞 行動電腦 Sony

引述外電報導, Sony 旗下 Vaio F 及 C 系行動電腦部份產品內的控溫晶片出現瑕疵,令到行動電腦可能會產生過熱情況,因此日前宣佈於全球多個國家及地區回收 53.5 萬台 F 及 C 系列的行動電腦。

 

此次回收針對 Sony Vaio 品牌的 F 及 C 系行動電腦,主要是由於兩者內建的控溫晶片出現瑕疵,令行動電腦在運作時可能會出現過熱問題而令外殼受損毀而甚至出現變形機會,而且更有可能導致用家在使用時造成皮膚灼傷,因此 Sony 下令全球回收 53.5 萬台產品,避免問題擴大。

 

據 Sony 指出,雖然目前上述兩款系列的產品在日本當地未有接獲有關投訴,但由於至今於海外地區已接獲 39 個相關問題投訴,儘管現時未有任何用家因使用而出現灼傷情況,但為免問題持續擴大,因此作出回收決定。

 

據了解,此次回收範圍包括全球多個國家及地區,其中據部份業者指出,預期美國將會回收近 26 萬台,歐洲多國其會回收超過 10 萬台,此外,連同日本在內的多個亞洲國家則合共約回收超過 17 萬台。同時, Sony 亦表示目前使用上述兩款系列行動電腦的用家可透過 Vaio 更新系統,或是到 Sony 官方網站下載程式作出修正,而且亦可到 Sony 客戶服務中心聯絡安排回收檢查事宜。

 

VAIO

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