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C_Law

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11# 跳轉到 »
發表於 2013-6-27 20:34 | 只看該作者
粒疑似 Ruoycon 個頂。

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tonytony

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12#
發表於 2013-6-27 20:40 | 只看該作者
粒疑似 Ruoycon 個頂。
C_Law 發表於 2013-6-27 20:34

假得太緊要

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C_Law

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13#
發表於 2013-6-27 21:24 | 只看該作者
通常這類情況的壞 Cap，最主要是：
1.粒 Cap 的實際 F 值下降
2.粒 Cap 的 ESR 值上升

A. 1 only
B. 2 only
C. 1 and 2
D. 其它

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LJ1320

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14#
發表於 2013-6-27 21:54 | 只看該作者
好假

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C_Law

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15#
發表於 2013-7-3 13:26 | 只看該作者
回復 13# C_Law

無人知？

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smhui

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16#
發表於 2013-7-3 14:10 | 只看該作者
如是以前出事的電容，因電解質含水，爆之後，水乾令F 值下降ESR 值上升。

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C_Law

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17#
發表於 2013-7-3 17:06 | 只看該作者
本帖最後由 C_Law 於 2013-7-3 17:09 編輯

有無"土炮"方法可以量度電容的 ESR？(我無電容表)

我試過將電容(C)串連電阻(Rext)，然後輸入一個低頻 Square wave(Freq << 1/RC，碓保每個 Half cycle 都是將電容 Fully charge/discharge)，量度電容 charge/discharge 到 0.63Vpeak 所需的時間(理論上等如 RC)，發覺粒舊電容的 charge/discharge time 比新電容更長。

是否可以當 R=Rext +ESR？

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